Bài báo tập trung nghiên cứu lý thuyết về đặc điểm phổ và phân bố góc của bức xạ tia X tham số (PXR) phát sinh khi các hạt tích điện chuyển động cực nhanh qua tinh thể mỏng. Dựa trên lý thuyết nhiễu xạ động học, chúng tôi thiết lập các biểu thức giải tích cho cường độ bức xạ và mật độ photon. Kết quả cho thấy trong tinh thể mỏng, cường độ PXR tỷ lệ thuận với bình phương độ dày tinh thể (L²) và có sự tương đồng sâu sắc với bức xạ Vavilov-Cherenkov. Đặc biệt, phân bố góc của PXR bộc lộ một cực tiểu tại tâm vết nhiễu xạ, với các cực đại phân bố theo dạng hình elip. Bằng cách so sánh định lượng với các nguồn tia X truyền thống (như ống RU-1500), bài báo chỉ ra rằng cường độ PXR cao hơn khoảng 4 bậc độ lớn (104 lần). Ưu thế vượt trội này giúp rút ngắn đáng kể thời gian ghi nhận, mở ra triển vọng ứng dụng trong phân tích cấu trúc tinh thể và nghiên cứu động lực học cấu trúc vật liệu.